激光誘導擊穿光譜（LIBS）爲手持式XRF和(hé)火花(huā)OES提供了(le)一種替代技術，用(yòng)于分析各種元素和(hé)合金(jīn)。使用(yòng)LIBS，在材料表面上(shàng)産生與火花(huā)光發射光譜（OES）一樣的等離子體。來(lái)自(zì)各種元素存在的光譜線被測量爲等離子體冷卻。特定線的波長顯示存在的元素，并且給定波長處的光的強度與每個元素的濃度相關。
SciAps很(hěn)高(gāo)興地介紹使用(yòng)激光誘發擊穿光譜（LIBS）的手持式分析儀Z。在分析大(dà)多數合金(jīn)，特别是亞鐵(tiě)，不鏽鋼和(hé)高(gāo)溫時(shí)，手持式LIBS有三種“必須”。那些(xiē)包括a）高(gāo)能(néng)量脈沖激光器，Z以50Hz重複率使用(yòng)6mJ /脈沖，b）新的50Hz爆破清洗以消除樣品研磨，以及c）Opti-Purge TM闆上(shàng)氩氣吹掃10次或更好(hǎo)的精度。 （注意，Z也(yě)可以配備僅用(yòng)于具有壓縮氣罐限制的場所的空(kōng)氣燃燒分析）。與傳統的手持XRF相比，Z提供了(le)FAC的一些(xiē)優勢。這(zhè)些(xiē)優點包括在低(dī)濃度（0.05％）下(xià)更快(kuài)的Cr分析 - 通常爲3秒。 Z是基于激光的，因此不存在如X射線的電離輻射。消除X射線會(huì)大(dà)大(dà)降低(dī)監管負擔，特别是在核燃料發電廠(chǎng)。最後，Z提供移動OES的低(dī)原子序數表現(xiàn)（Li，Be，B，Mg，Al，Si），同時(shí)保持手持XRF的可移植性。