當電子被撞出軌道(dào)時(shí),它們會(huì)留下(xià)空(kōng)位,使原子不穩定。原子必須立即通過填補被移動的電子留下(xià)的空(kōng)位來(lái)糾正不穩定性。這(zhè)些(xiē)空(kōng)缺可以通過更高(gāo)的軌道(dào)進行填充,這(zhè)些(xiē)軌道(dào)向下(xià)移動到(dào)空(kōng)位退出的較低(dī)軌道(dào)。例如,如果電子從(cóng)原子的最内層(最靠近原子的那個)移出,則來(lái)自(zì)下(xià)一層外(wài)殼的電子可以向下(xià)移動以填充空(kōng)位。這(zhè)是熒光。
電子具有更高(gāo)的結合能(néng),它們離原子核越遠。因此,當一個電子從(cóng)較高(gāo)的電子殼層落到(dào)更接近核子的電子殼層時(shí),電子會(huì)失去一些(xiē)能(néng)量。能(néng)量損失量相當于兩個電子層之間的能(néng)量差,這(zhè)是由它們之間的距離決定的。如上(shàng)所述,兩個軌道(dào)外(wài)殼之間的距離對(duì)每個元素都是獨特的。
失去的能(néng)量可以用(yòng)來(lái)識别它發出的元素,因爲在熒光過程中損失的能(néng)量的量對(duì)每個元素都是唯一的。檢測到(dào)的單個熒光能(néng)量是特定于樣品中存在的元素的。爲了(le)确定存在的每個元素的數量,單個能(néng)量出現(xiàn)的比例可以通過儀器或其他(tā)軟件來(lái)計(jì)算(suàn)。
整個熒光過程發生在一秒鐘(zhōng)的小(xiǎo)派系中。使用(yòng)該工(gōng)藝和(hé)現(xiàn)代手持式XRF分析儀的測量可以在幾秒鐘(zhōng)内完成。測量所需的實際時(shí)間取決于樣本的性質和(hé)感興趣的程度。高(gāo)百分比水(shuǐ)平将需要幾秒鐘(zhōng),而百萬分之一水(shuǐ)平則需要幾分鐘(zhōng)。
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