帶有XTrace微點X射線源的Micro-XRF将完整的micro-XRF光譜儀的功能(néng)添加到(dào)掃描電子顯微鏡中。 XTrace适用(yòng)于幾乎任何SEM的自(zì)由傾斜腔室端口。用(yòng)戶可以從(cóng)微量元素靈敏度和(hé)XRF分析的更高(gāo)信息深度中受益。
用(yòng)戶友好(hǎo)的用(yòng)于SEM的Micro-XRF系統
使用(yòng)HyperMap進行分布分析可存儲每個地圖點的完整光譜，以進行在線和(hé)離線分析可以使用(yòng)Micro-XRF和(hé)EDS分析樣品而無需改變位置這(zhè)兩種方法都集成在同一個分析軟件套件中 - ESPRIT 2.0不幹擾正常的SEM操作(zuò)，XTrace可以在大(dà)多數時(shí)間保持在其測量位置。
完整的micro-XRF光譜儀，無需投資
分析結果與獨立系統的結果相比較
圖像平鋪允許映射大(dà)區(qū)域
可選擇的初級輻射濾波器，以抑制衍射峰
使用(yòng)SEM電動載物台
允許樣品傾斜以産生最小(xiǎo)光斑尺寸。
易諾與美(měi)國伊諾斯公司（Innov-X）開(kāi)發生産的伊諾斯Innov-X光譜儀有着良好(hǎo)的合作(zuò)關系。