奧林(lín)巴斯XRF手持式礦石分析儀擁有優良的檢測性能(néng)，可以快(kuài)速、可靠的在現(xiàn)場實時(shí)提供樣品元素分析數據，助力用(yòng)戶輕松确定土壤、岩石和(hé)礦石中的多元素特性。XRF技術創新發展模式，讓奧林(lín)巴斯手持式礦石分析儀擴大(dà)了(le)測試元素的範圍，降低(dī)儀器檢出限和(hé)檢測時(shí)間。
奧林(lín)巴斯手持式礦石分析儀Vanta VMR XRF礦石分析儀在金(jīn)礦上(shàng)和(hé)金(jīn)礦科研中，可以快(kuài)速精準地分析黃金(jīn)礦石中種類多樣且繁雜(zá)的樣本，并且可對(duì)提煉過的黃金(jīn)樣品快(kuài)速準确的分析其中的元素信息。
優勢特性：
1.通過對(duì)土壤、鑽屑和(hé)鑽芯中元素的XRF分析探測，可以更快(kuài)勘察到(dào)潛在金(jīn)元素礦化情況。
2.使用(yòng)手持式礦石分析儀可對(duì)樣本進行快(kuài)速篩查，可以極快(kuài)獲得樣品元素信息，可以合理(lǐ)使用(yòng)分析出的信息，以及可以可靠确定鑽井的區(qū)域。
3.通過XRF技術能(néng)呈現(xiàn)結構特性映射圖，更快(kuài)捷敏銳地分析到(dào)礦化蝕變區(qū)域，讓用(yòng)戶能(néng)獲取更多礦床信息，幫助客戶可靠确定以及更好(hǎo)完成建模和(hé)定向工(gōng)作(zuò)。由于減少稀釋方式使用(yòng)，可以獲得更好(hǎo)金(jīn)采收量。
4.在岩石地球化學應用(yòng)中使用(yòng)XRF技術，可以迅速、低(dī)成本爲岩石進行快(kuài)捷分類。
5.用(yòng)于在采礦勘探和(hé)礦體定向應用(yòng)中，更精準可靠地分析金(jīn)元素和(hé)金(jīn)探途元素的手持式礦石光譜分析儀。
| 礦床類型 | 地球化學特征 |
| 造山金(jīn)礦 | S、As、CO2、K+/– Sb、Te、Mo、W、Cu、Pb、Zn、Hg |
| 高(gāo)硫化淺成熱液 | Ag、Cu、Te、Mo、Bi、Sn |
| 低(dī)硫化淺成熱液 | Zn、Hg、Se、K、As、Sb、Ag/Au |
| 卡林(lín)型 | As、Sb、Hg、Tl |
| 斑岩型銅-金(jīn)礦 | Cu、Pb、Zn、Ag |
| 含金(jīn)矽卡岩 | Bi、Te、As、Co |
| 侵入型相關金(jīn)礦 | Bi、W、As、Sb、Mo、Te |
| 火山成因塊狀硫化物礦床（VHMS） | Cu、Pb、Zn、Ag、Ba、K、Mg +/–CO2 |
| 鐵(tiě)氧化物銅-金(jīn)礦（U） | F、P、Co、Ni、As、Mo、Ag、Ba、U、LREE |
| 表生金(jīn)礦 | 高(gāo)成色金(jīn)礦 +/– 以上(shàng)任何元素 |
金(jīn)礦床的相關地球化學特征
探途元素和(hé)蝕變地球化學
大(dà)多數金(jīn)礦床都有其特定的地球化學特征（如上(shàng)表所示）。XRF礦石分析儀可以分析出這(zhè)些(xiē)地球化學特性，幫助地質研究者了(le)解更多所勘察的地質系統信息。典型的金(jīn)探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和(hé)W。
常見金(jīn)探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型号地球化學模式）
| 元素 | 檢出限（ppm）* | 元素 | 檢出限（ppm）* |
| As | 2 | W | １-２ |
| Cu | ２-５ | Bi | 1 |
| Pb | ２-３ | Sb | 2 |
| Zn | 1 | Ag | ２-５ |
*每個光束擁有120秒的檢測時(shí)間，無幹擾的二氧化矽基質；請(qǐng)參閱奧林(lín)巴斯有關檢出限的文(wén)件，了(le)解有關更低(dī)檢出限的詳細探讨說明(míng)。
用(yòng)于探測金(jīn)元素的手持式礦石光譜分析儀
衆所周知(zhī)，手持式礦石光譜分析儀不能(néng)對(duì)地質樣本中低(dī)含量的金(jīn)元素進行直接檢測（如：低(dī)ppm和(hé)ppb值）。基于實驗室的火試金(jīn)法被普遍認爲是分析金(jīn)元素的首選方法。金(jīn)元素的L線處于X射線熒光能(néng)量頻譜非常擁擠的區(qū)域。在頻譜這(zhè)個區(qū)域中，會(huì)有來(lái)自(zì)其它元素（如：As, Zn, W和(hé)Se）的幹擾，使分析儀錯誤的判斷金(jīn)元素，提供錯誤的信息。
不過，在某些(xiē)特定情況下(xià)，如：高(gāo)品位的（> 5 ppm）石英脈環境（相對(duì)來(lái)說沒有幹擾）或在精煉的金(jīn)産品中（金(jīn)元素有較高(gāo)含量），可使手持式礦石光譜分析儀對(duì)金(jīn)元素直接進行分析。
在金(jīn)礦上(shàng)，更多實驗室正在使用(yòng)XRF技術替代或補充火試金(jīn)法，對(duì)礦石進行檢測分析。請(qǐng)參閱奧林(lín)巴斯應用(yòng)注釋“在金(jīn)礦實驗室中使用(yòng)手持式XRF礦石分析儀”。在礦山上(shàng)，工(gōng)作(zuò)人員也(yě)會(huì)使用(yòng)奧林(lín)巴斯手持式XRF礦石分析儀檢測活性炭中的金(jīn)元素。請(qǐng)參閱奧林(lín)巴斯應用(yòng)注釋“檢測活性炭中的金(jīn)元素”。
圖像由Arne等提供（2014） – 在金(jīn)元素勘探中對(duì)來(lái)自(zì)便攜式XRF分析儀的資産規模數據的使用(yòng) – 優勢和(hé)局限性，地球化學：勘探，環境，分析。
來(lái)自(zì)加拿大(dà)的金(jīn)元素勘探項目，XRF分析儀在野外(wài)繪制的表面土壤中As、Cu和(hé)Pb元素等值線圖對(duì)比ICP分析。
VANTA光譜分析儀技術規格
外(wài)型尺寸（寬 × 高(gāo) × 厚）：8.3 × 28.9 × 24.2 cm
重量：帶電池時(shí)1.70公斤；不帶電池時(shí)1.48公斤。
激勵源：4瓦特X射線管，其根據不同應用(yòng)而優化的陽材料包括铑（Rh）、銀（Ag）和(hé)鎢（W）。
M系列（Rh和(hé)W）和(hé)C系列（Ag）：8 ～ 50 kV
C系列（Rh和(hé)W）：8 ～ 40 kV
主光束過濾：每個模式每條光束有8個位置的自(zì)動選擇過濾器。
探測器M系列：大(dà)區(qū)域矽漂移探測器。
C系列：矽漂移探測器。
電源：可拆裝的14.4 V锂離子電池或 18 V電源變壓器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 大(dà)70 W。
顯示：800 × 480 (WVGA)液晶電容式觸摸屏，可使用(yòng)手指進行控制。
操作(zuò)環境：溫度：–10 °C ～ 50 °C（帶可選風(fēng)扇時(shí)，可連續工(gōng)作(zuò)）。
濕度：相對(duì)濕度爲10 % ～ 90 %，無冷凝。
墜落測試：通過了(le)美(měi)軍标準810-G的1.3米高(gāo)墜落測試。
IP評級：IP65*：防塵，而且可防止來(lái)自(zì)各個方向的水(shuǐ)噴。
壓力校正：内置氣壓計(jì)，用(yòng)于海拔和(hé)空(kōng)氣密度的自(zì)動校正。
GPS：嵌入式GPS/GLONASS接收器。
操作(zuò)系統：Linux。
數據存儲：4 GB嵌入存儲，帶有microSD卡插槽，可擴展存儲容量。USB 兩個USB 2.0 A型主端口，用(yòng)于諸如Wi-Fi、藍牙和(hé)USB閃存驅動盤等配件。一個USB 2.0袖珍B型端口，用(yòng)于連接計(jì)算(suàn)機。
Wi-Fi：通過可選購USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。
藍牙：通過可選購USB适配器，支持藍牙和(hé)藍牙低(dī)能(néng)功能(néng)。
瞄準攝像頭：全VGA CMOS攝像頭。
全景攝像頭：5百萬像素CMOS攝像頭，帶自(zì)動聚焦透鏡。