我們的客戶使用(yòng)Vanta手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以确定合金(jīn)、金(jīn)屬、土壤及其它材料的化學成分。但(dàn)是，您可否知(zhī)道(dào)我們奧林(lín)巴斯的分析儀還可以測量塗層的厚度？配備了(le)塗層方式的Vanta分析儀可以測量金(jīn)屬、塑料、玻璃，甚至木(mù)材表面的塗層厚度，且可測量多層塗層的厚度。
塗層材料無處不在
塗層具有裝飾、保護或其他(tā)功能(néng)性作(zuò)用(yòng)。例如：汽車工(gōng)業中使用(yòng)的塗層可以起到(dào)防腐蝕、裝飾、防磨損，以及保護電子器件的作(zuò)用(yòng)。同樣，航空(kōng)航天工(gōng)業使用(yòng)的塗層有助于減少阻力，防止出現(xiàn)殘渣碎片和(hé)積累的污垢，從(cóng)而可以降低(dī)燃料的消耗。
工(gōng)業産品普遍使用(yòng)塗層，因爲大(dà)多數塗層都起到(dào)了(le)非常重要的作(zuò)用(yòng)。鎳具有堅韌、耐用(yòng)、延展性好(hǎo)的特性，因而成爲一種廣受歡迎的塗料。根據ASTM針對(duì)鋼材料産品的優質表面處理(lǐ)所推薦的标準，烤面包機、華夫餅機、烤肉機，以及類似的電器用(yòng)品都應該使用(yòng)約10微米的鎳塗層。鎳還具有防潮的性能(néng)，因此爐竈的上(shàng)表面、家具、浴室配件和(hé)廚櫃也(yě)會(huì)使用(yòng)鎳塗層。另一種廣受歡迎的塗料是鉻，鉻與鎳的性能(néng)相似，而且，具有更強的抗腐蝕和(hé)抗磨損的性能(néng)。
使用(yòng)塗料的其他(tā)常見應用(yòng)包括：
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屏蔽電子器件：導電的塗層用(yòng)于屏蔽塑料設備
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建築飾面：塗層可以保護鋼鐵(tiě)材料免受鏽蝕，避免銅和(hé)黃銅材料失去光澤，避免鋅材和(hé)鋁材出現(xiàn)污漬
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太陽能(néng)電池：許多太陽能(néng)電池覆蓋有薄合金(jīn)或聚合物塗層
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工(gōng)具鋼：钛制和(hé)鎢制硬質合金(jīn)有助于增加防磨性和(hé)耐用(yòng)性
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電氣布線：鋅塗層和(hé)鎳塗層正在取代過去的镉塗層
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XRF分析儀如何測量塗層厚度
準确的厚度測量結果有助于制造商提供質量上(shàng)乘的産品，同時(shí)還可以控制成本。塗層的厚度應該恰到(dào)好(hǎo)處；産品的塗層太厚會(huì)增加制造成本。客戶對(duì)來(lái)料進行質量控制時(shí)，也(yě)會(huì)對(duì)塗層進行檢測：确保所接收來(lái)料使用(yòng)的是正确的塗層材料，且塗層的厚度準确無誤。
取決于不同的材料，奧林(lín)巴斯Vanta手持式XRF分析儀可以測量範圍從(cóng)0.00到(dào)約60.00微米的塗層厚度。分析儀發出X射線，X射線撞擊到(dào)被測樣本，使樣本發出熒光。分析儀探測到(dào)返回的X射線，并使用(yòng)獲得的數據計(jì)算(suàn)塗層的厚度。
根據國際材料工(gōng)程師和(hé)科學家協會(huì)（ASM）的防腐和(hé)防磨表面工(gōng)程要求，屬于這(zhè)個範圍的各種表面工(gōng)程技術包括電鍍（機械、化學、電解）、蒸發（化學和(hé)物理(lǐ)沉積）和(hé)粘合（樹脂或漆料）。
Vanta分析儀最多可檢測三層材料的厚度
奧林(lín)巴斯XRF塗層厚度的優勢
使用(yòng)一款可以快(kuài)速、有效地完成無損檢測的工(gōng)具，有助于在生産線和(hé)野外(wài)的工(gōng)作(zuò)人員做好(hǎo)産品的質量控制工(gōng)作(zuò)。奧林(lín)巴斯手持式Vanta分析儀可以在10秒鐘(zhōng)的短時(shí)間内提供檢測結果，而且通過30秒鐘(zhōng)就能(néng)完成的單點校準可以對(duì)檢測結果進行完善。手持式XRF分析儀也(yě)不會(huì)損壞被測材料。
由于手持式分析儀具有小(xiǎo)巧、便攜的特性，因此可以非常方便地檢測較大(dà)的樣本，而使用(yòng)台式分析儀對(duì)這(zhè)類較大(dà)的樣本進行檢測時(shí)，可能(néng)需要對(duì)樣本進行切割，才能(néng)将樣本放(fàng)入分析儀中。
鍍層測試結果界面簡潔明(míng)了(le)
Vanta分析儀的鍍層模式
元素配置：可分析的元素爲原子數大(dà)于钛的元素，包括钛元素。同一種元素不能(néng)在多個塗層中被重複分析，包括基底材料。
可選的實證單點校準：用(yòng)戶可以使用(yòng)一種内部認證的樣本對(duì)校準進行調整。
層的數量：Vanta分析儀的鍍層模式可以最多測量3層材料的厚度，不過各層材料要足夠薄，以使X射線從(cóng)底層材料返回到(dào)探測器。
基底：可以分析任何基底材料，隻要基底材料中不包含塗層材料中存在的元素。