合金(jīn)分析儀是基于X射線理(lǐ)論而誕生的，它主要用(yòng)于軍工(gōng)、航天、鋼鐵(tiě)、石化、電力、制藥等領域金(jīn)屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴随世界經濟崛起的工(gōng)業和(hé)軍事(shì)制造領域必不可少的快(kuài)速成份鑒定工(gōng)具。
手持式合金(jīn)分析儀的原理(lǐ)：
手持式合金(jīn)分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用(yòng)于确認物質裏的特定元素， 同時(shí)将其量化。它可以根據X射線的發射波長(λ)及能(néng)量(E)确定具體元素，而通過測量相應射線的密度來(lái)确定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術就能(néng)測定物質的元素構成。
每一個原子都有自(zì)己固定數量的電子(負電微粒)運行在核子周圍的軌道(dào)上(shàng)。而且其電子的數量等同于核子中的質子(正電微粒)數量。從(cóng)元素周期表中的原子數我們則可以得知(zhī)質子的數目。每一個原子數都對(duì)應固定的元素名稱，例如鐵(tiě)，元素名是Fe，原子數是26。能(néng)量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特别研究與應用(yòng)了(le)最裏層三個電子軌道(dào)即K，L，M上(shàng)的活動情況，其中K軌道(dào)接近核子，每個電子軌道(dào)則對(duì)應某元素一個個特定的能(néng)量層。
手持式合金(jīn)分析儀在XRF分析法中，從(cóng)X光發射管裏放(fàng)射出來(lái)的高(gāo)能(néng)初級射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這(zhè)些(xiē)初級光子含有足夠的能(néng)量可以将裏層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這(zhè)時(shí)，原子變成了(le)不穩定的離子。由于電子本能(néng)會(huì)尋求穩定，外(wài)層L層或M層的電子會(huì)進入彌補内層的空(kōng)間。在這(zhè)些(xiē)電子從(cóng)外(wài)層進入内層的過程中，它們會(huì)釋放(fàng)出能(néng)量，我們稱之爲二次X射線光子。
而整個過程則稱爲螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射産生的能(néng)量是由電子轉換過程中内層和(hé)外(wài)層之間的能(néng)量差決定的。例如，鐵(tiě)原子Fe的Kα能(néng)量大(dà)約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間内所放(fàng)射出來(lái)的X射線的數量或者密度，能(néng)夠用(yòng)來(lái)衡量這(zhè)種元素的數量。典型的XRF能(néng)量分布光譜顯示了(le)不同能(néng)量時(shí)光子密度的分布情況。