随着工(gōng)業生産自(zì)動化水(shuǐ)平的提升以及生産流程安全高(gāo)效運行要求不斷提高(gāo)，行業對(duì)各類材料以及零部件的成分檢測提出了(le)更高(gāo)的要求。易諾科技奧林(lín)巴斯提供一系列基于X射線表征材料的儀器，可使客戶在需要時(shí)随時(shí)随地進行檢測分析。
X射線衍射（XRD）分析儀BTX III XRD是一款機身小(xiǎo)巧的台式分析儀，可以爲用(yòng)戶提供礦物主要成分和(hé)次要成分的可靠的定量性礦物學信息。這(zhè)款分析儀将性能(néng)強大(dà)的軟件和(hé)改進的X射線探測器結合在一起使用(yòng)，提高(gāo)了(le)檢測的速度和(hé)靈敏度。
BTX III台式XRD分析儀
同樣在檢測分析方面有着出色表現(xiàn)的VANTA Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀，吸引了(le)衆多專業人士的咨詢、體驗。在對(duì)材料進行分揀的過程中，龐大(dà)的數據量以及雜(zá)亂的材料常常導緻檢測的開(kāi)展十分緩慢。VANTA Element-S分析儀配備矽漂移探測器（SDD），可對(duì)元素進行分析，并在幾秒内對(duì)合金(jīn)進行牌号辨别和(hé)分揀，能(néng)夠快(kuài)速有效地測量黑色金(jīn)屬、鋁、銅、不鏽鋼、鎳和(hé)金(jīn)的含量。