我們都知(zhī)道(dào)奧林(lín)巴斯手持式光譜儀探測器在使用(yòng)的時(shí)候如果不小(xiǎo)心進入異物或者發生碰撞，很(hěn)容易造成探測器損壞。如何更換探測器呢(ne)？更換奧林(lín)巴斯光譜儀探測器的中國區(qū)售後服務中心是哪家？換一個探測器需要多少錢(qián)呢(ne)？易諾科技奧林(lín)巴斯光譜儀技術人員來(lái)給大(dà)家介紹光譜儀重要核心部件的維修問題。
奧林(lín)巴斯XRF光譜儀探測器的種類：
XRF(X熒光光光譜儀)探測器是用(yòng)來(lái)接收X射線并把它轉變成可測量的或可觀察的量。
現(xiàn)在很(hěn)常用(yòng)的探測器有流氣式正比計(jì)數器、封閉式正比計(jì)數器、閃爍計(jì)數器以及應用(yòng)于X射線熒光能(néng)譜分析上(shàng)的半導體探測器。
(1)流氣式正比計(jì)數器。它主要用(yòng)來(lái)探測波長在0.2~1.5nm的X射線，通常用(yòng)厚2~6m，并喯鍍鋁的聚酯膜作(zuò)窗口材料，充有90%氩和(hé)10%甲烷的混合氣體。由于窗口如此薄，探測器很(hěn)容易漏氣，故需不斷補充新鮮氣體，氣體的流量一般爲1.6~3.2L/min。近年來(lái)，爲了(le)探測超軟X射線(波長達1~10nm)，窗口常采用(yòng)1m的聚丙烯或聚碳酸酯薄膜，甲烷的含量可高(gāo)達百分百或用(yòng)氦氣。流氣式正比計(jì)數器的能(néng)量分辨率僅次于半導體探測器，對(duì)FeKaⅠ線的分辨率均爲10%~20%，是閃爍計(jì)數器的2~3倍。它的計(jì)數分辨時(shí)間與閃爍計(jì)數器相仿，适用(yòng)于高(gāo)達105~106cps（即脈沖/s）的計(jì)數。充氩或充氪的正比計(jì)數器有較大(dà)的逸出峰。當流氣式正比計(jì)數器的窗薄破損或陽極絲沾污時(shí)可進行更換或清洗。
(2)封閉式正比計(jì)數器。根據填充的氣體氦、氖、氩、氪、氙不同，可探測波長在0.03~0.4nm的X射線。
(3)閃爍計(jì)數器。它主要用(yòng)來(lái)探測波長在0.01~0.3nm的X射線，可記錄高(gāo)達106~107cps的計(jì)數。它是由一塊用(yòng)铊激活的密封于铍窗内的碘化鈉(NaⅠ(T1))晶體和(hé)一個光電倍增管所組成。它對(duì)高(gāo)能(néng)量的X射線具有比較好(hǎo)的吸收能(néng)力，而對(duì)6keV以下(xià)的低(dī)能(néng)量X射線探測效率較差。這(zhè)正好(hǎo)同流氣式正比計(jì)數器的探測效率形成互補。爲此，目前有些(xiē)儀器廠(chǎng)商在閃爍計(jì)數器前面串聯一個流氣式正比計(jì)數器，低(dī)能(néng)量的軟X射線主要被流氣式正比計(jì)數器接收，而未接收的能(néng)量較高(gāo)的硬X射線被閃爍計(jì)數器接收。這(zhè)種串聯裝置可有效地提高(gāo)測定鉻至銅之間元素的計(jì)數強度。
(4)锂漂移矽和(hé)锂漂移鍺探測器[記作(zuò)Si(Li)和(hé)Ge(Li)半導體探測器]。其優點是有很(hěn)高(gāo)的分辨率，良好(hǎo)的線性響應，壽命長和(hé)工(gōng)作(zuò)性能(néng)穩定等。它在常溫下(xià)的噪聲可達幾十電子伏特以上(shàng)。當用(yòng)于X射線測量時(shí)，它必須在液氮保護下(xià)進行低(dī)溫操作(zuò)。因此在應用(yòng)上(shàng)受到(dào)了(le)限制。
(5)光譜儀Pin探測器和(hé)SDD探測器,近期幾年工(gōng)業化的技術,具有高(gāo)分辨率,高(gāo)穩定性,幾年甚至幾十年都可以長期穩定的使用(yòng),無需外(wài)部制冷和(hé)充氣