XRF如何工(gōng)作(zuò) - X射線熒光光譜
X射線熒光（XRF）是用(yòng)于确定各種材料中元素濃度的非破壞性分析方法。
XRF通過用(yòng)來(lái)自(zì)X射線管的X射線束照射樣品來(lái)工(gōng)作(zuò)，導緻特征X射線從(cóng)樣品中的每個元素發出熒光。 檢測器測量每個X射線的能(néng)量和(hé)強度（以特定能(néng)量每秒的x射線數），其使用(yòng)諸如基本參數或用(yòng)戶生成的校準曲線之類的非标準技術轉換成元素濃度。
元素的存在通過元件的特征X射線發射波長或能(néng)量來(lái)識别。 通過測量該元件的特征X射線發射的強度來(lái)量化存在的元素的量。
原子級
原子 - 堿性配置ONE - 所有原子具有固定數量的電子。這(zhè)些(xiē)電子排列在核周圍的軌道(dào)上(shàng)。能(néng)量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個電子軌道(dào)K，L和(hé)M線的活動。
原子 - 基本配置顯示殼 - 這(zhè)些(xiē)電子排列在核周圍的軌道(dào)上(shàng)。能(néng)量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個電子軌道(dào)K，L和(hé)M線的活動。