X射線衍射分析法是研究物質的物相和(hé)晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時(shí)，該物質被X射線照射産生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質組成、晶型、分子内成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質産生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快(kuài)捷、測量精度高(gāo)、能(néng)得到(dào)有關晶體完整性的大(dà)量信息等優點。因此，X射線衍射分析法作(zuò)爲材料結構和(hé)成分分析的一種現(xiàn)代科學方法，已逐步在各學科研究和(hé)生産中廣泛應用(yòng)。
X射線衍射儀(XRD)是通過對(duì)材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料内部原子或分子的結構或形态等信息的研究手段。
X射線衍射儀使用(yòng)注意事(shì)項：
(1)固體樣品表面>10×10mm，厚度在5μm以上(shàng)，表面必須平整，可以用(yòng)幾塊粘貼一起。
(2)對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
(3)對(duì)于測量金(jīn)屬樣品的微觀應力(晶格畸變)，測量殘餘奧氏體，要求制備成金(jīn)相樣品，并進行普通抛光或電解抛光，消除表面應變層。
(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大(dà)于5g。